新世代ナノスケール赤外分光システム 高分解能の表面形状・機械特性・電気特性分析に加え、ナノスケールの赤外分光分析を一つのシステムで実現 Dimension IconIRは、ブルカーの高性能AFMと中赤外レーザーとの組み合わせにより光の回折限界を超える超微小領域から赤外吸収情報を得る新しい分光装置であり、化学組織やその分散状態をナノレベルで可視化することができます。 • 透過 FT-IR スペクトルと相関する最高の分光性能 • 10 nm の空間分解能のケミカルイメージング・単分子層を検知する表面感度 • 独自の PeakForce Tapping 技術が実現する最も進んだ形状-物性相関顕微鏡 • 大型 AFM-IR 随一の高性能プラットフォーム（300 mm ウェハ対応） • 多彩な測定モードと充実したアクセサリー